درباره مجله « رابط، لایه نازک و سیستم‌های با ابعاد کم (JITF)» | روند اکسپت مقاله

فرایند اکسپت مقاله فیزیک در مجله «Journal of Interface, Thin Film and Low Dimension Systems (JITF)» با هدف توسعه پژوهش‌های علمی در حوزه فیزیک، لایه‌های نازک و سیستم‌های کم‌بعد طراحی شده است. این نشریه علمی–پژوهشی زیر نظر دانشگاه الزهرا منتشر می‌شود و بستری معتبر برای انتشار مقاله‌هایی فراهم کرده که به بررسی روش‌های نوین در فیزیک حالت جامد، تحلیل داده‌های تجربی، مدل‌سازی ریاضی و کاربردهای فیزیک در علوم مهندسی می‌پردازند.

مجله JITF به‌صورت دوفصلنامه و به زبان انگلیسی منتشر می‌شود. این نشریه دارای رتبه علمی–پژوهشی از وزارت علوم بوده و در پایگاه‌های معتبر داخلی و بین‌المللی مانند ISC، SID، Magiran، CIVILICA و Google Scholar نمایه شده است. انتشار مقالات در این مجله به‌صورت چاپی و الکترونیکی انجام می‌شود و دسترسی به متن کامل مقالات برای عموم رایگان است.

محورهای اصلی اکسپت مقاله فیزیک در این مجله شامل بررسی خواص لایه‌های نازک، سیستم‌های کم‌بعد، فیزیک رابط‌ها، مدل‌سازی آماری در داده‌های فیزیکی، و کاربردهای فیزیک در فناوری‌های نوین است. مقالات باید دارای نوآوری در مسئله‌پردازی یا روش‌شناسی باشند و از نظر علمی ارزش‌افزوده داشته باشند. مقاله‌هایی که صرفاً مروری بر منابع موجود باشند یا فاقد نوآوری باشند، بررسی نخواهند شد.

داوری در این مجله به‌صورت دوسو ناشناس انجام می‌شود و هزینه چاپ مقاله پس از پذیرش دریافت می‌گردد. پژوهشگرانی که در حوزه فیزیک فعالیت دارند، می‌توانند از این مجله به‌عنوان بستری معتبر برای اکسپت مقاله فیزیک علمی خود استفاده کنند.